掃描電子顯微鏡 國儀量子 高分辨 SEM3300
SEM3300的分辨率在各種電壓下都表現出色。在20 kV的電壓下，其分辨率達到2.5 nm，比普通的鎢燈絲電鏡提高了16%。
此外，在3 kV的電壓下，其分辨率達到4 nm，比普通的鎢燈絲電鏡提高了2倍；在1 kV的電壓下，其分辨率達到5 nm，比
普通的鎢燈絲電鏡提高了3倍。這些高分辨率的特性使得SEM3300能夠滿足更多材料的分析測試需求。
總的來說，國儀量子的SEM3300掃描電子顯微鏡憑借其的性能和高分辨率的特性，為科研和工業領域提供了強大的分析工
具。國儀量子的SEM3300掃描電子顯微鏡不僅在分辨率上表現出色，還在多個方面展示了其先進性和實用性。
首先，SEM3300配備了先進的電子光學系統，包括高亮度鎢燈絲電子槍和大面積、高透過率的多層膜孔徑光闌。這些組件
的優化設計使得電子束的聚焦更加精確，提高了圖像的對比度和清晰度。
其次，SEM3300采用了高分辨率的大面積探測器，能夠快速捕獲電子信號并將其轉換為高質量的圖像。此外，國儀量子還
針對探測器進行了優化，降低了暗電流和噪聲，提高了圖像的信噪比。
除了硬件方面的優勢，SEM3300還具備強大的軟件功能。通過配備的智能分析軟件，用戶可以輕松實現圖像的預處理、元素
分析、形貌觀察和三維重構等功能。這些軟件功能不僅提高了工作效率，還使得分析結果更加準確可靠。
此外，SEM3300還注重用戶體驗和操作便捷性。設備采用人性化的設計，操作界面簡潔明了，易于上手。同時，國儀量子還
提供了全面的技術支持和售后服務，確保用戶在使用過程中能夠獲得及時的幫助和解決方案。
